如影随形

如何设计一个七位数半精度的DAQ？ ADI工程师将带

发布时间：2025-05-10 10:57编辑：bet356亚洲版本体育浏览（182）

数据提取系统是现代电子设备的必要组成部分。它们主要用于获得由电子设备和传感器生成的信号，其精度高于实时处理，循环仿真，自动测试和数据记录应用程序。本文指出：对于需要七个半数字甚至更高准确性的数据提取系统，该行业传统上使用了基于离散设备的多斜坡积分ADC。尽管此ADC可以提供合理的测量精度，但奉献的设计和过程通常更为复杂。在过去的十年左右的时间里，24位σδADC已被广泛用于六位数和半数数字万用表（DMMS）的设计，而较高的性能ADC则是瓶颈，以实现七位数和一半的准确性和秩序。同时，另一个重大挑战来自电压参考。为了达到超低温度漂移，传统的纳米电压阶段电压参考通常需要复杂的外部信号调节电路。为了满足这些高精度瓶颈设计，ADI推出了创新的解决方案。 24位，2个MSP，AD4630-24的组合最大±0.9 ppm inl与完全集成的超低漂移精度参考ADR1001结合在一起，以及可以形成漂移和低噪声的精度。本文将介绍解决方案。 part.0 1设备选择ADC：ADI的AD463X系列ADC包含2 MSP或500 ksps的采样率。该系列的性能导致了INL行业和过高的有效性，使其非常适合工具和其他应用。 AD463X包括轻松驱动驱动器，可轻松驾驶；它具有多种模式，驱动程序要求的额外放松；平均过滤器在内部集成，并支持最多30位的数据输出。此外，ADI还提供了单通道A与AD463X系列相比，D403X系列的3DB噪声性能提高了，其他性能类似于AD463X系列。参考：ADR1399：它具有超低温度漂移0.2 ppm/℃，超低噪声为1.44μVP-P和巨大的裂痕长期性能。低动态阻抗是完美的参考，可以超过六个半DMM。 ADR1000：与LTZ1000相比，ADR1000提高噪声，初始精度为±50mV，与LTZ1000相比，这是一定的改进。它还具有超低的长期漂移，超低噪声为0.9μVP-P，内置的片上加热和温度传感器，并广泛用于高精度和高精度系统中。 ADR1001：最新的ADR1001包括一个缓冲区和精度电阻，而无需大量离散设备，从而极大地改善了客户的舒适度。温度的温度漂移与LTZ1000相当，并且还具有超低的噪声性能。为答案台Mark是摘要，在比较之后，就输出噪声，温度漂移或长期漂移而言，最新的ADR1001可以在最高级别上看到，并且其高集成使客户可以使用。许多其他基准的性能也处于行业的最高水平，并且在六到八到八点的DMM中广泛使用，客户可以根据他们的需求做出灵活的选择。放大器：ADA4522：这是高压零饮用的低噪声放大器，最大电源电压高达55V。它的电压噪声密度为5.8NV/√Hz，超低22NV/℃偏置电压漂移，并广泛用于台式测量仪器中。 ADA4523-1：这是最新的放大器，电压噪声密度为4.2NV/√Hz和低至88NV P-P。它被称为该行业中最低的零饮用器放大器。漂移电压偏置为10NV/℃，增益带宽产品为5MHz，比ADA4522宽。下图COMPARS aDA4523，ADA4522和其他公司产品的性能。 ADA4620：JFET输入阶段具有超低噪声电压和出色的DC和AC性能，是适用于仪器和仪器的高增压输入放大器的第一阶段。在准确性电阻方面：ADI还提供了特殊的LT5400电阻产品，匹配的电阻水平为0.01％，温度匹配功能为0.2 ppm/℃。它还具有良好的长期稳定性和各种匹配的电阻值选项。 part.0 2此实验设置七位数半DAQ解决方案将AD4630-24用作ADC和ADR1001作为基准。 Ssignal条件劳动使用ADA4523和LT5400将±10V的输入范围转换为ADC所需的0-5V输入范围。电源的一部分使用了DC-DC和LDO的组合，分别赋予了模拟和数字组件。具体而言，使用了ADI无声切换器2的LT8609，以及T他超低噪声LTO LTTO LT3045和LT3093。此外，双通道超低噪声LTO LTTO LT3097也可用于替换晚期两个设备。第3部分3测试噪声结果：在短输入电路的条件下进行噪声测试，将采样率设置为62.5kHz和1MHz，输出速率为10 PLC。获得的噪声结果如下图所示。可以看出，使用ADA4523的DAQ的噪声为62.5kHz采样率约为500 NVRM，这意味着噪声水平为0.05 ppm。在较高的采样速率下，相同的输出速率对应于较低的噪声，因此1MHz采样率的噪声约为采样率的四分之一，以62.5kHz采样率。在采用方面：首先，测试以100 PLC的输出速率进行，结果表明INL不超过0.2 ppm。以10 PLC的输出速率，INL不超过0.32 ppm，主要受噪声影响。更改参考后，当USI何时NG ADR1399，INL约为0.3ppm；使用AD4550D时，INL约为0.4ppm。温度系数测试：以100 PLC输出速率进行温度系数测试。测试温度设置为40℃，23℃和0℃。分别设置了不同的输入电压，并且在不同温度下的变化。如图所示，使用不同基准测量DAQ温度系数的结果。由于LT5400确定偏移误差，因此不同参考下的偏移错误结果相对接近。同时，LT5400和参考对误差的存在有重大影响。从表可以看出，使用ADR1001作为参考的DAQ误差的特征会更好。 24小时的稳定性测试：24小时稳定性测试结果如下。同样，基于ADR1001的DAQ结果会更好。与市场DMM的比较：此表比较了M上现有DMM的结果与我们尝试过的DAQ的Arket。可以看出，该测试的DAQ结果在七个半数和半数之间。它应该指出，实际DMM包括更复杂的电路，例如输入保护，电压，电流，阻抗测量等。